產品中心
Product Center
當前位置：首頁
產品中心小麥面粉大米檢測化驗儀器谷物分析儀
玉米表型檢測儀可一鍵檢測分析玉米凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、玉米株高、莖稈節(jié)間距和基粗葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和玉米千粒重等高通量表型參數。
更新時間：2025-04-24
型號：KM-YMBX
瀏覽量：502
水稻表型檢測系統可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。
更新時間：2025-04-24型號：KM-SDY瀏覽量：400
KM-DMII大米碎米測定儀用于代替人工目測來客觀、快速、準確地自動檢測大米的加工精度，具有重復性和再現性好等優(yōu)點
更新時間：2025-04-24型號：KM-DMII瀏覽量：399
大米加工精度分析儀用于代替人工目測來客觀、快速、準確地自動檢測大米的加工精度，適用于科研院所、檢測單位、碾米廠和流通企業(yè)等。
更新時間：2025-04-24型號：KM-DMJD瀏覽量：690